BRUKER · FT-NIR · бесконтактный анализ

MATRIX-F II Emission

Бесконтактный контроль с выносными измерительными головками.

Исполнение Emission предназначено для бесконтактных головок. Отличается от базовой версии с обычными зондами.

МетодFT-NIR · бесконтактный анализ

РазмещениеНа производственной линии

ЦенаПо запросу

Запросить предложение →

О ПРИБОРЕ

Применение в пищевой промышленности

Исполнение Emission предназначено для бесконтактных головок. Отличается от базовой версии с обычными зондами.

MATRIX-F II Emission получает спектр через выносную головку с собственными источниками света. Отражённое излучение передаётся к спектрометру по оптоволокну. Головку размещают над движущимся продуктом либо у подходящего смотрового окна.

Исполнение Emission предназначено для бесконтактного измерения. Для погружных зондов или сочетания контактных и бесконтактных измерений выбирают другие исполнения семейства MATRIX-F II.

В проекте согласуются число точек, головки, длина оптоволокна, крепления, условия среды, ПО, калибровки и обмен данными с системой управления. Головка Q413/A и запасные источники Q424/A указываются отдельными позициями при необходимости.

Метод: Показатели, диапазоны и точность определяются калибровкой для конкретного продукта. Перед поставкой требуется согласовать аналитический пакет и проверку на образцах заказчика.

ПОЧЕМУ ЭТО РАБОТАЕТ

Возможности и конфигурация

Выносные головки

Оптоволоконное соединение

ДЛЯ ПРОИЗВОДСТВА И НИОКР

Продукты и задачи

Комплектация и методика подбираются под конкретную матрицу.

Продукты на конвейере — по проекту

ПОДБОР МЕТОДИКИ

Получить предложение на MATRIX-F II Emission

Укажите продукт, показатели и объём измерений. Согласуем комплектацию, методику, стоимость и срок поставки.